AXI CT – od obrazu do metrologii (część III)
Zacznijmy od szczerego zdania, które wielu praktyków i tak wie: samo posiadanie CT nie oznacza, że CT realnie pracuje dla procesu. Można mieć świetny system offline, robić spektakularne wizualizacje i nadal nie poprawiać yield, bo dane nie wracają do procesu. Z drugiej strony można mieć CT inline, które nie robi „najpiękniejszego obrazu świata”, ale daje metrykę i trend – i wtedy to jest złoto dla inżyniera procesu – pisze Daniel Trzciński – inżynier procesu i praktyk produkcji elektroniki, dyrektor zarządzający w IMT Technologies & Solutions Sp. z o.o.
CT w produkcji: kiedy to jest narzędzie procesu, a kiedy „ładny obraz”
Inline vs offline, M2M i sens danych
Zacznijmy od szczerego zdania, które wielu praktyków i tak wie: samo posiadanie CT nie oznacza, że CT realnie pracuje dla procesu. Można mieć świetny system offline, robić spektakularne wizualizacje i nadal nie poprawiać yield, bo dane nie wracają do procesu. Z drugiej strony można mieć CT inline, które nie robi „najpiękniejszego obrazu świata”, ale daje metrykę i trend — i wtedy to jest złoto dla inżyniera procesu.
W produkcji liczy się nie tylko „czy ta płytka jest dobra”, ale „czy proces jest stabilny i dokąd dryfuje”. Inspekcja OK/NOK jest reakcją na skutek. Narzędzie procesowe ma pomagać przewidywać i korygować.
Dane CT są wyjątkowe, bo opisują efekt procesu w bryle. Połączenie lutowane jest wynikiem całego łańcucha: pasta, druk, pick&place, profil reflow, geometria padów, materiały. CT nie wskaże palcem jednego parametru, ale pokaże zmiany w strukturze: objętość lutu, rozkład voidów, ciągłość. Jeśli te metryki zaczynają się zmieniać w czasie, to często jest sygnał wcześniej niż pojawienie się NOK na końcu.
Największą wartość uzyskuje się wtedy, gdy CT nie jest wyspą, tylko elementem pętli jakości. SPI mówi, co włożyliśmy do procesu — ile pasty i gdzie. AOI mówi, czy komponent siedzi tam, gdzie powinien. AXI CT mówi, co wyszło w środku połączenia po reflow. Dopiero razem pozwala to robić analizę przyczyn źródłowych bez wróżenia z fusów. Jeśli rośnie void ratio, można sprawdzić, czy równolegle zmienia się objętość pasty, czy pozycjonowanie, czy profil. Wtedy inspekcja zaczyna wspierać proces.
I teraz przechodzimy do rozróżnienia, które jest krytyczne i które bardzo często jest spłaszczane w rozmowach: offline CT i inline CT to w praktyce dwa różne światy.
Systemy offline CT często są projektowane tak, aby dawać bardzo szczegółowy obraz do oceny przez człowieka. To ma sens w laboratorium: chcesz obejrzeć przypadek, zrobić przekroje, powiększyć, obracać, przygotować raport. Problem zaczyna się wtedy, gdy ktoś próbuje przenieść ten sposób pracy do produkcji. Bo produkcja ma ograniczony czas na ocenę, a analiza offline jest z natury czasochłonna i wymaga bardzo doświadczonego operatora. W efekcie firmy posiadające offline CT często nie decydują się na używanie go procesowo — nawet statystycznie, w stylu „jedna płytka na sto”. To brzmi dobrze na papierze, ale w realu przegrywa z czasem i dostępnością eksperta.
Dodatkowo wiele systemów offline nie ma funkcji M2M. Nie komunikuje się bezpośrednio z AOI i SPI, nie tworzy automatycznych zestawień korelacyjnych, nie wpina się w dane produkcyjne. W takiej sytuacji wpływ na proces jest marginalny. To nadal może być świetne narzędzie do wykrywania realnych defektów — podkreślmy to uczciwie — tylko że skuteczność zależy od operatora. Innymi słowy: offline CT często działa jak mikroskop ekspercki. Mikroskop jest fantastyczny, ale nie steruje procesem sam z siebie.
Do tego dochodzi jeszcze kwestia pseudo-3D offline. Nawet jeśli system robi tomosyntezę, często sprowadza się to do oglądania slice’ów. Taki slice z BGA mówi nam, gdzie bliżej krawędzi jest badany obszar, ale bez stabilnych wskazań metrycznych 3D pozostajemy w świecie wizualnej oceny. To nie jest zarzut, to jest po prostu inna filozofia narzędzia.
Inline AXI CT działa inaczej. Nie musi „wygrywać urodą obrazu”, bo jego zadaniem jest mierzyć i podejmować decyzję automatycznie. Kluczem jest metrologia voxelowa, powtarzalne kryteria oraz komunikacja M2M, która pozwala na korelacje i trend. To właśnie integracja i automatyzacja powodują, że CT zaczyna realnie wpływać na proces.
Jeżeli z CT można wyciągnąć stabilne metryki, to można robić SPC i reagować, zanim proces zacznie produkować odpady. Jeśli widać powolny wzrost void ratio, można sprawdzić warunki pasty i profilu. Jeśli spada objętość lutu, wracamy do druku. Jeśli pojawia się asymetria, patrzymy na pick&place i profil. To jest inżynieria procesu oparta o dane, a nie o wrażenie z obrazu.
Cały cykl można więc podsumować prostym zdaniem: CT staje się przełomem wtedy, gdy przestaje być „ładnym obrazem” i staje się „pomiarowym źródłem danych procesowych”. Offline CT bywa genialne do analizy przypadków i R&D, ale w produkcji skaluje się trudno. Inline CT, jeśli ma metrologię i M2M, może stać się częścią sterowania procesem.
A na koniec lekka, ale prawdziwa obserwacja z hal produkcyjnych: najlepszy system inspekcji to taki, który pomaga tak wcześnie, że nie masz już czego inspekcjonować… bo proces po prostu trzyma parametry.
Daniel Trzciński – inżynier procesu i praktyk produkcji elektroniki. Od lat zajmuje się sprzedażą, szkoleniami oraz wdrożeniami systemów inspekcyjnych i testowych, obejmujących SPI, AOI, AXI, a także testy FCT, ICT oraz testy wiązek kablowych – od prostych aplikacji po zaawansowane systemy inspekcji optycznej. W swojej pracy wspiera zakłady produkcyjne w optymalizacji kontroli jakości i procesów SMT. Obecnie pełni funkcję dyrektora zarządzającego w IMT Technologies & Solutions Sp. z o.o.
Zapraszamy na nasze nowe wydarzenie, Hardware Forum 2026, 14-15 maja 2026. Zapisz się już dziś i skorzystaj z oferty early bird:
